國(guó)產(chǎn)激光干涉儀是一種精密測(cè)量?jī)x器，利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量和分析。通過(guò)將激光束分為兩路，并通過(guò)反射、干涉和檢測(cè)等過(guò)程，實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面形貌、位移、震動(dòng)等參數(shù)的測(cè)量。其基本原理為干涉光束之間的相位差變化與待測(cè)參數(shù)相關(guān)聯(lián)，通過(guò)對(duì)干涉光的分析和處理，可以獲得高精度的測(cè)量結(jié)果。
 

　　功能：
 

　　高精度測(cè)量：具備高精度測(cè)量能力，可以實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)別的位移和形貌測(cè)量。這對(duì)于一些需要高精度測(cè)量的領(lǐng)域，如微細(xì)加工、納米技術(shù)研究等具有重要意義。
 

　　實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)：可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和反饋控制，能夠?qū)Υ郎y(cè)物體的變化進(jìn)行快速準(zhǔn)確的檢測(cè)，并及時(shí)調(diào)整參數(shù)或處理方式。這對(duì)于工程和制造業(yè)中的在線(xiàn)監(jiān)控和質(zhì)量控制至關(guān)重要。
 

　　非接觸性測(cè)量：國(guó)產(chǎn)激光干涉儀采用非接觸性測(cè)量方式，可以避免傳統(tǒng)測(cè)量方法可能引起的表面損傷或污染問(wèn)題。這對(duì)于對(duì)待測(cè)物體要求較高的場(chǎng)景，如光學(xué)元件、精密機(jī)械零件等具有特別的優(yōu)勢(shì)。
 

　　表面形貌測(cè)量：可以通過(guò)測(cè)量物體表面的干涉圖案來(lái)獲取其形貌信息。它可以實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、曲面和復(fù)雜結(jié)構(gòu)等不同形狀的物體進(jìn)行精確的形貌測(cè)量。
 

　　位移測(cè)量：可用于測(cè)量物體的微小位移，例如材料的膨脹、振動(dòng)和微動(dòng)等。它可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)物體的位置變化，并提供高精度的位移測(cè)量結(jié)果。
 

　　薄膜厚度分析：可以應(yīng)用于薄膜的厚度和折射率分析。通過(guò)測(cè)量干涉圖案的變化，可以準(zhǔn)確計(jì)算薄膜的厚度和其它光學(xué)參數(shù)，對(duì)材料的質(zhì)量和性能進(jìn)行評(píng)估。
 

　　振動(dòng)分析：可以檢測(cè)物體表面的微小振動(dòng)。它可以用于機(jī)械結(jié)構(gòu)的模態(tài)分析、振動(dòng)模式的測(cè)量和噪聲分析等領(lǐng)域，為工程振動(dòng)問(wèn)題的研究和分析提供有力工具。
 

　　光學(xué)元件檢測(cè)：可應(yīng)用于光學(xué)元件的加工和檢測(cè)中。它可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光學(xué)表面的形貌誤差、表面質(zhì)量和光學(xué)性能，為光學(xué)元件的制造和質(zhì)量控制提供有效支持。
 

　　總的來(lái)說(shuō)，國(guó)產(chǎn)激光干涉儀具備高精度測(cè)量、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和非接觸性測(cè)量等功能，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究、工程應(yīng)用和制造業(yè)等領(lǐng)域，為相關(guān)行業(yè)提供了重要的測(cè)量和分析手段。