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CEM3000A低電壓高分辨率掃描電鏡鏡筒內(nèi)加減速技術(shù)賦能敏感樣品觀測!它搭載創(chuàng)新“鏡筒內(nèi)加減速+復(fù)合透鏡設(shè)計”核心技術(shù),解決低電壓場景下的成像痛點,為B端用戶提供“低損+高清+穩(wěn)定”的微觀檢測新方案!
CEM3000實驗室小型掃描電鏡體標(biāo)配二次電子探頭+多象限背散射探頭,可選配能譜儀,實現(xiàn)微觀形貌與元素分析雙重功能,一站式解決多類型樣品檢測需求。
依托自有研發(fā)團(tuán)隊,中圖儀器掃描電鏡廠家自主攻克復(fù)合抗振防磁、快速抽真空、高分辨率成像等核心技術(shù),旗下CEM3000系列掃描電鏡具備優(yōu)于4nm的空間分辨率、20萬倍放大倍數(shù),支持一鍵成像、自動調(diào)節(jié)等便捷功能,適配多行業(yè)微觀檢測需求。
中圖儀器工業(yè)掃描電鏡廠家CEM3000系列電鏡搭載復(fù)合抗振技術(shù),20萬倍高清+40秒快檢!在材料科學(xué)中解析材料表面形貌與內(nèi)部結(jié)構(gòu);結(jié)合桌面式小巧體積設(shè)計,可放置于普通實驗臺,對場地?zé)o特殊要求。
CEM3000系列桌面型sem掃描電鏡體積小巧,可放置于普通實驗臺,對場地?zé)o特殊要求。4nm高清+40秒快檢,搭配鏡筒內(nèi)電子加減速和復(fù)合透鏡設(shè)計,低至1KV也能對電子束敏感樣品直接觀察。
CEM3000抗振防磁掃描電子顯微鏡確保高倍數(shù)下微觀特征(如60nm銀線、錫球焊接缺陷)清晰可辨,數(shù)據(jù)誤差率顯著降低,避免因成像模糊、數(shù)據(jù)失真導(dǎo)致的研發(fā)誤判、質(zhì)檢漏檢等問題。從實驗室到生產(chǎn)線、從車間現(xiàn)場到狹小空間(手套箱/車廂),無論環(huán)境振動、磁場干擾如何變化,均能穩(wěn)定輸出優(yōu)于4nm(SE模式)的高清成像。
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